SEM

 

Skaningowy mikroskop elektronowy JEOL JSM-6380LA wyposażony jest w mikroanalizator typu EDS, oraz tryb pracy w niskiej próżni. Urządzenie umożliwia obserwację struktur i mikroanalizę składu pierwiastkowego  próbek o średnicy i wysokości do 10 cm zarówno przewodzących elektrycznie jak i będących dielektrykami o stopniu uwodnienia mniejszym niż 3%. Dodatkowo dostępna jest napylarka jonowa umożliwiająca metalizację nieprzewodzących próbek jako alternatywa do stosowania systemu niskiej próżni.

 

Podstawowe dane techniczne JSM-6380LA to:

Napięcie przyspieszające zmienne w zakresie 300V – 30 kV,

Zakres realnych powieszeń 15x – 100.000x

Zakres jakościowej i ilościowej analizy pierwiastków od B do U

Możliwe jest wykonywanie map, profili rentgenowskich oraz analizy punktowej.

 

Serwis zapewnia całodobowe telefoniczne wsparcie techniczne.